5月11日，應中國科學院沈陽自動化研究所工業(yè)控制網(wǎng)絡與系統(tǒng)研究室徐皚冬研究員和王鍇副研究員邀請，中科院國際杰出學者、美國馬里蘭大學首席教授Michael Pecht來所訪問，并作了題為Advances in the Qualification of Electronics Products的學術報告。
Michael Pecht首先以實際案例生動地講解了可靠性測試的基本概念，并指出了目前可靠性測試方法所存在的缺陷。隨后，他從工程科學家的角度講述了如何利用基于物理失效模型的方法實現(xiàn)復雜機電系統(tǒng)/產(chǎn)品的現(xiàn)場壽命預測，進而有效提高產(chǎn)品可靠性與預計結(jié)果準確性，為最終實現(xiàn)產(chǎn)品的預測性維護奠定理論基礎。最后，Michael Pecht回答了現(xiàn)場提問，并和與會人員進行了熱烈的交流與探討。
來訪期間，Michael Pecht與沈陽自動化所所長于海斌、人事教育處處長周船就國家機器人檢測與評定中心建設、海外人才引進等內(nèi)容進行了深入交流，為今后進一步合作達成了一致意見。
Michael Pecht現(xiàn)任美國馬里蘭大學機械工程系首席教授、馬里蘭大學應用數(shù)學系首席教授，是美國馬里蘭大學先進壽命周期工程中心（CALCE）的創(chuàng)始人與負責人，該中心得到了全球150多家知名公司的資助，每年獲得的資助超過600萬美元。Michael Pecht是美國科學/工程院（National Academy of Science / Engineering, NAE / NAS）可靠性委員會成員、美國國會調(diào)查委員會專家（負責能源 & 商業(yè)領域）、美國食品與藥品監(jiān)督管理局（FDA）專家，美國電氣電子工程師學會院士(IEEE Fellow）、美國機械工程師學會院士 （ASME Fellow）、國際微電子與封裝協(xié)會院士（IMAPS Fellow和美國汽車工程師學會院士（SAE Fellow）。鑒于他在可靠性研究領域的卓越貢獻，2007年被授予了可靠性研究和應用領域的最高榮譽——IEEE可靠性分會終身成就獎。此外，他還獲得過歐洲微納米可靠性大獎以及電子封裝領域的3M研究獎等諸多國際獎項。他曾擔任IEEE Transactions on Reliability刊物主編八年，同時在IEEE Spectrum雜志的顧問委員會任職。目前他是Microelectronics Reliability雜志的主編以及IEEE Transactions On Components and Packaging Technology雜志的副主編。他出版過20多本關于電子產(chǎn)品開發(fā)、使用及供應鏈管理的著作，發(fā)表700多篇學術論文。主持或參與200多個政府與工業(yè)界的研究項目，并擔任22家大型國際電子產(chǎn)品公司的技術顧問，咨詢服務內(nèi)容涉及電子產(chǎn)品及系統(tǒng)的策略規(guī)劃、設計、測試和壽命預測、知識產(chǎn)權(quán)及風險評估，其研究成果多次獲得美國有線電視新聞網(wǎng)（CNN）等國際媒體報道。（工業(yè)控制網(wǎng)絡與系統(tǒng)研究室）
